ИСТИНА

Программа предназначена для нахождения параметров структуры и ориентационного распределения нанографитов в различных материалах путем аппроксимации их рентгеновских дифрактограмм. Для работы программы требуются наборы теоретических рентгеновских дифрактограмм систем модельных нанографитов, отличающихся размерами наночастиц. При этом во всех системах данного набора нанографиты характеризуются одинаковыми зависимостями как межатомного, так и межслоевого расстояний от их размеров, а сами системы - одинаковым законом ориентационного распределения нанографитов. Аппроксимация экспериментальной дифрактограммы проводится с помощью линейной комбинации дифрактограмм систем модельных нанографитов, входящих в набор. Результатом работы программы является набор систем нанографитов, позволяющий аппроксимировать дифрактограмму образца с наименьшим значением фактора достоверности (R-фактора).