ИСТИНА

Программа предназначена для расчета профилей рентгеновской дифракции гипотетических порошков несколькослойных нанографенов (нанографитов), имеющих турбостратно упакованные слои и симметрию углеводородной молекулы типа бензола, нафталина, феналена или пирена. Программа допускает различные способы задания зависимости среднего межатомного расстояния в нанографене и среднего межплоскостного расстояния в нанографите от количества атомов в слое и амплитуд тепловых колебаний атомов углерода. В программе предусмотрена возможность симуляции профиля рентгеновской дифракции порошка несколькослойных нанографенов с симметрией молекул бензола с учетом радиальной зависимости межатомных расстояний в слое. Программа может быть использована при аппроксимации экспериментальных профилей рентгеновской дифракции порошков несколькослойных нанографенов и активированных углеродных материалов, содержащих такие структурные блоки.