Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Nitrides of Ga, In, Al: Structures & Devices. 3-rd All Russia Workshop
сборник
Год издания:
1999
Серия:
Abstracts
Место издания:
Moscow
Добавил в систему:
Бойко Михаил Евгеньевич
Статьи, опубликованные в сборнике
1999
Nanoscale Level Studying of AlN Thin Film Growth with Help of Small-Angle Scattering of X-Ray Method
Boiko M.E.
,
Sher E.M.
в сборнике
Nitrides of Ga, In, Al: Structures & Devices. 3-rd All Russia Workshop
, серия
Abstracts
, место издания
Moscow