|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Сборник материалов и программа Второй международной научной школы-семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии)»сборник
- Год издания: 2008
- Место издания: г. Великий Новгород
- Добавил в систему: Андреева Марина Алексеевна
Статьи, опубликованные в сборнике
-
- 2008 Рентгеновская резонансная рефлектометрия с использованием поляризованного СИ как метод исследования магнитных мультислоев
- Андреева М.А., Смехова А.Г., Рогалев А.
- в сборнике Сборник материалов и программа Второй международной научной школы-семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии)», место издания г. Великий Новгород, с. 62-65
-
- 2008 Рентгеновская флуоресценция в условиях резонансного возбуждения в скользящей геометрии
- Андреева М.А., Одинцова Е.E., Смехова А.Г.
- в сборнике Сборник материалов и программа Второй международной научной школы-семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии)», место издания г. Великий Новгород, с. 60-61
-
- 2008 Стоячие волны в селективных по глубине исследованиях сверхтонких взаимодействий
- Андреева М.А., Грибова А.Д., Gupta A.
- в сборнике Сборник материалов и программа Второй международной научной школы-семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии)», место издания г. Великий Новгород, с. 55-57