XXVIII Российская конференция по электронной микроскопии Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериаловсборник
Год издания:2020
Том:1
Место издания:ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН Москва