|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
PV 2003-03 <ISBN 1-56677-348-2>ALTECH 2003 Analytical and Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials, Devices, and Processesсборник
- Год издания: 2003
- Место издания: Published PVs from the ECS Meeting, Paris, France (Spring 2003)
- Добавил в систему: Осколок Кирилл Владимирович
Статьи, опубликованные в сборнике
-
- 2003 TXRF characterization of inhomogeneous solids: Influence of surface morphology
- Alov N.V., Oskolok K.V., Wittershagen A., Kolbesen B.O.
- в сборнике PV 2003-03 <ISBN 1-56677-348-2>ALTECH 2003 Analytical and Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials, Devices, and Processes, место издания Published PVs from the ECS Meeting, Paris, France (Spring 2003), с. 129-135