Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Тезисы XXIII Росс. Конф. по электр. микроск. (РКЭМ)
сборник
Год издания:
2014
Место издания:
ИПТМ, Черноголовка
Сборник тезисов
Добавил в систему:
Куликаускас Вацловас Станиславович
Статьи, опубликованные в сборнике
2014
Визуализация наночастиц в Si, последовательно имплантированном ионами 64Zn+ и 16O+, с помощью СПЭМ и карт ЭДС
Привезенцев В.В.,
Куликаускас В.С.
,
Шемухин О.В.
, Трифонов А.Ю.
в сборнике
Тезисы XXIII Росс. Конф. по электр. микроск. (РКЭМ)
, место издания
ИПТМ, Черноголовка
, тезисы, с. 76