|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
7th European Workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS Europe 2010). 19-21 September 2010. Münster, Germany.Конференция
- Охват: Международная
- Даты проведения: 19-21 сентября 2010
- Место проведения: Münster, Germany
- Добавил в систему: Алов Николай Викторович
Доклады:
- 2010 Influence of Ar+ and O2+ Ion Bombardment on Surface Composition of Oxides (Стендовый)
- Автор: Alov N.V.