Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
18th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM
Конференция
Охват:
Международная
Даты проведения:
29 июня - 3 июля 2017
Место проведения:
Республика Алтай, п. Эрлагол, Russia
Организатор:
Новосибирский государственный технический университет (НГТУ)
Веб-сайт:
http://edm.conf.nstu.ru/edm2017/agenda/
Добавил в систему:
Винарский Евгений Максимович
Доклады:
2017
On the fault coverage of high-level test derivation methods for digital circuits
(Устный)
Авторы:
Jorge López
,
Evgeny Vinarsky
,
Andrey Laputenko