Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
17-я конф. «Фотометрия и ее метрологическое обеспечение»
конференция
Даты проведения:
2008
Место проведения:
ВНИИОФИ, Москва, Russia
Добавил в систему:
Богданов Рифкат Ибрагимович
Доклады:
2008
Нелинейные свойства тонкопленочных матриц, активированных нанокристаллами, в рамках слабо-диссипативной КАМ.
Авторы:
Богданов Р.И.
,
Демин А.В.