Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
5th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Topography XTOP-2000
Конференция
Охват:
Международная
Даты проведения:
13-15 сентября 2000
Место проведения:
Ustron-Jaszowiec, Poland
Добавил в систему:
Прудников Илья Рудольфович
Доклады:
2000
Laue-case X-ray dynamical diffraction by imperfect multilayers. Recursion equations
(Стендовый)
Автор:
Prudnikov I.R.
2000
X-ray study of SiC surface and bonding interface in compositions SiC/Si
(Стендовый)
Авторы:
Argunova T.S.
,
Grekhov I.V.
,
Kostina L.S.
,
Tur'yanskii A.G.
,
Pirshin LV
,
Prudnikov I.R.
,
Kim E.D.
,
Kim S.C.
,
Kim N.K.