В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
 

XXVIII Российская конференция по электронной микроскопии "Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарных методов исследований наноструктур и наноматериалов"Конференция



Доклады: