Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
IV-я международная конференция «Стандартные образцы в измерениях и технологиях»
Конференция
Охват:
Международная
Даты проведения:
1-3 декабря 2020
Место проведения:
Санкт-Петербург, Russia
Организатор:
УНИИМ, филиал ФГУП "ВНИИМ им. Д.И. Менделеева"
Число участников:
150
Все конференции этой группы
Добавил в систему:
Вонский Максим Сергеевич
Доклады:
2020
Метрологическое обеспечение измерений нуклеиновых кислот
(Пленарный)
Авторы:
Вонский М.С.
,
Рунов А.Л.
,
Кустиков Ю.А.