|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Международная конференция "Физические основы надежности и деградации полупроводниковых приборов"Конференция
- Охват: Международная
- Даты проведения: 1985
- Место проведения: Кишинев
- Число участников: 300
- Число докладчиков: 200
- Добавил в систему: Левченко Владимир Анатольевич