Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
XVIII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим метолам исследования твердых тел
Симпозиум
Член программного комитета:
XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии аналитическим метолам исследования и.т.
Даты проведения:
2013
Место проведения:
Московская область, г. Черноголовка
Добавил в систему:
Рау Эдуард Иванович
Доклады:
2013
«Возможные причины противоречий в определении некоторых параметров зарядки диэлектрических мишеней»
Авторы:
Гостев А.В.
,
Татаринцев А.А.
,
Рау Э.И.
,
Евстафьева Е.Н.
2013
«Выражение для основных характеристик обратнорассеянных электронов»
Авторы:
Дицман С.А.
,
Рау Э.И.
,
Лукьянов А.Е.
,
Зайцев С.В.
2013
«Отклонение электронного пучка, вызванное зарядкой диэлектрических пленок на проводящей подложке»
Авторы:
Князев М.А.
,
Рау Э.И.
,
Зайцев С.И.
,
Татаринцев А.А.
,
Свинцов А.А.