Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Визуальная аналитика
Конференция
Охват:
Международная
Даты проведения:
17 октября 2017
Место проведения:
Москва, Russia
Организатор:
НИЯУ МИФИ
Число участников:
30
Число иностранных участников:
5
Число докладчиков:
16
Веб-сайт:
http://sv-journal.org/conference/Program.php?lang=ru
Описание конференции:
I Международная конференция
Добавил в систему:
Ерёмченко Евгений Николаевич
Доклады:
2017
Концепция визуального анализа, планирования и мониторинга критически важных объектов
(Устный)
Авторы:
Клименко А.С.
,
Ерёмченко Е.Н.
,
Бутко А.Б.
,
Клименко С.В.