|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Angular-resolved studies of the contribution of atoms to sputtering of (001) Ni as a function of their depth of originдоклад на конференции
- Авторы: Samoilov V.N., Kovaleva N.A., Dekhtyar K.V., Tatur A.E.
- Международная Конференция : 14th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA-14) and 6th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology (ECAART-6)
- Даты проведения конференции: 26-30 июля 1999
- Дата доклада: 28 июля 1999
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Samoilov V.N.
- Место проведения: Dresden, Germany, Germany
-
Аннотация доклада:
Устный доклад (25 мин.)
- Добавил в систему: Самойлов Владимир Николаевич