|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Специфика вейвлет-анализа в рентгеновской рефлектометрии тонких пленок для выявления пространственных особенностей электронной плотности.доклад на конференции
- Авторы: Астафьев С.Б., Янусова Л.Г., Щедрин Б.М.
- Всероссийская с международным участием Конференция : Школа ФКС-2018.
- Даты проведения конференции: 12-18 марта 2018
- Дата доклада: 12 марта 2018
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: Щедрин Б.М.
- Место проведения: Санкт-Петербург, Russia
- Добавил в систему: Щедрин Борис Михайлович