![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Изучены структура, морфология, упругие и магнитные свойства "толстых" протяженных Fe- и Сo-обогащенных аморфных микропроводов в стеклянной оболочке, полученных с помощью модернизированного метода Улитовского-Тейлора.