Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Новые возможности и перспективы методов электронной спектроскопии в сканирующем электронном микроскопе.
доклад на конференции
Авторы:
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Зайцев С.В.
,
Рау Э.И.
,
Татаринцев А.А.
,
Толстов И.О.
,
Купреенко С.Ю.
Всероссийская с международным участием Конференция (Симпозиум) :
XIX Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ - 2015) и 3-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов"
Даты проведения конференции:
1-5 июня 2015
Дата доклада:
2 июня 2015
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
Рау Э.И.
не указан
Гостев А.В.
Дицман С.А.
Зайцев С.В.
Рау Э.И.
Татаринцев А.А.
Толстов И.О.
Купреенко С.Ю.
Место проведения:
г. Черноголовка Московской обл., Russia
Добавил в систему:
Купреенко Степан Юрьевич