Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Analysis of Microcrystal Silicon Grain Structure in a Smectic-Type Matrix Based on the Small-Angle X-Ray Scattering Measurements.
доклад на конференции
Авторы:
Sharkov M.D.
,
Boiko M.E.
,
Konnikov S.G.
,
Boiko A.M.
,
Bobyl A.V.
Международная Конференция (Семинар (workshop)) :
• DATIS/ENPI Seminar at LUT-Physics.Finland, Lappeenranta, LUT,
Даты проведения конференции:
8-10 декабря 2014
Дата доклада:
9 декабря 2014
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
не указан
не указан
Sharkov M.D.
Boiko M.E.
Konnikov S.G.
Boiko A.M.
Bobyl A.V.
Место проведения:
Lappeenranta, LUT, Finland
Добавил в систему:
Бойко Михаил Евгеньевич