ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Проводится анализ скейлинговых характеристик нанокластерных образований звездного типа на основе детерминированного подхода к исследованиям фрактальных объектов. При этом сопоставляются скейлинговые свойства геометрических параметров анализируемых объектов и картин дифракции зондирующего излучения с использованием численных методов.