|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Denermination of the second critical energy of primary electrons in relation to dielectric thickness and angle of incidence.доклад на конференции
- Авторы: Rau E.I., Tatarintsev A.A., Evstaf'eva E.N.
- Международная Конференция (Конгресс) : 18th International Microscopy Congress (IMC 2014)
- Даты проведения конференции: 7-12 сентября 2014
- Дата доклада: 10 сентября 2014
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Rau E.I.
- Место проведения: Prague, Czech Republic
-
Аннотация доклада:
Proc. IT-4-P-1829
- Добавил в систему: Рау Эдуард Иванович