Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Discrete Fourier analysis of single crystal structure defects images
доклад на конференции
Авторы:
Tkal V.A.
,
Zhukovskaja I.A.
,
Bushuev V.A.
Международная Конференция :
4th International Conference on Electron, Positron, Neutron and X-ray Scattering under External Influences (September 14-16, 2015, Yerevan, Armenia), 2016. P. 107-117
Даты проведения конференции:
14-17 сентября 2015
Дата доклада:
15 сентября 2015
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
Tkal V.A.
не указан
Tkal V.A.
Zhukovskaja I.A.
Bushuev V.A.
Место проведения:
Yerevan, Armenia
Добавил в систему:
Бушуев Владимир Алексеевич