|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
THE USE OF X-RAY DIFFRACTION IN THE STUDIES OF COMPLICATE CRYSTAL CHEMICAL PHENOMENAдоклад на конференции
- Автор: Пущаровский Д.Ю.
- Международная Конференция : 30th International Geological Congress
- Даты проведения конференции: 1996
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: Пущаровский Д.Ю.
- Место проведения: Beijing, China
-
Аннотация доклада:
The crystal chemical phenomena (e.g. microtwinning and modulation), which accompony the formation of real structures are considered on the basis of structural studies of K-rich nenadke- vichite and synthetic K4(NbO)2[Si8O21].
- Добавил в систему: Пущаровский Дмитрий Юрьевич