|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Секционная топография на отражение дефектов в однородно изогнутом кристалледоклад на конференции
- Авторы: Смирнова И.А., Суворов Э.В., Образова А.С.
- Всероссийская с международным участием Конференция (Симпозиум) : XIX Симпозиуме «Нанофизика и наноэлектроника», Институт физики микроструктур РАН, Н.Новгород, 10 - 14 марта 2015 г.
- Даты проведения конференции: 10-14 марта 2015
- Дата доклада: 13 марта 2015
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Н.Новгород, Russia
-
Аннотация доклада:
In this paper we consider the image formation of surface defects in a uniformly bent crystal in the method section topography. Surface defects were introduced Vickers indenter. During the experiment, the crystal bent by a special device. The influence of experimental parameters on the intensity distribution in the observation plane are discussed. The results of numerical simulation of the sectional image are compared with the experimentally observed images.
- Добавил в систему: Суворов Эрнест Витальевич