Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Методика исследования оптических констант двухслойных полупроводниковых структур в субмиллиметровой и миллиметровой областях спектра.
доклад на конференции
Авторы:
Кошелев О.Г.
,
Трухин А.П.
,
Лагуткин С.А.
,
Баскаков А.Н.
Всероссийская Конференция :
1-я Всесоюзная межвузовская научно-техническая конференция “Оптические и радиоволновые методы и средства неразрушающего контроля качества материлов и изделий”.
Даты проведения конференции:
5-9 октября 1981
Дата доклада:
7 октября 1981
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
не указан
не указан
Кошелев О.Г.
Трухин А.П.
Лагуткин С.А.
Баскаков А.Н.
Место проведения:
Фергана, Tajikistan
Аннотация доклада:
Добавил в систему:
Кошелев Олег Григорьевич