|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Holographic interferometry of thin-walled structure distortion during the stereolithography processдоклад на конференции
- Авторы: Сайфутдинов Ю.Н., Бычков П.С.
- Международная Конференция : VI Международная конференция «Проблемы математической физики и математического моделирования»
- Даты проведения конференции: 25-27 мая 2017
- Дата доклада: 25 мая 2017
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Москва, Russia
- Добавил в систему: Казаков Кирилл Евгеньевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|