|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
О ключевой проблеме обеспечения качества серийных изделий на примере микроэлектронного производствадоклад на конференции
- Автор: Бетелин В.Б.
- Всероссийская Конференция : Научно-техническая конференция «Научно-технические проблемы обеспечения надежности образцов вооружения, военной и специальной техники и пути их решения»
- Даты проведения конференции: 30 мая 2018
- Дата доклада: 30 мая 2018
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Russia
- Добавил в систему: Стамов Любен Иванович