ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
В лекции рассмотрены особенности применения спектроскопии поверх-ностного плазмонного резонанса (ППР) для исследования оптических и структурных характеристик ультратонких (до 500 мкм) полимерных си-стем. Особое внимание уделено использованию спектроскопии ППР для изучения процессов, происходящих в ультратонких пленках молекулярно-импринтированных полимеров и композиционных материалов.