|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Контроль дефектов морфологии и топологии микро- и наносхемдоклад на конференции
- Авторы: Федотов А.Ю., вахрушев александр васильевич, Ральникова А.С.
- Международная Конференция : VIII международная конференция "Кристаллизация: компьютерные модели, эксперимент, технологии"
- Даты проведения конференции: 11-12 апреля 2019
- Дата доклада: 11 апреля 2019
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: Федотов А.Ю.
- Место проведения: Ижевск, Russia
- Добавил в систему: Федотов Алексей Юрьевич