|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
High Temperature Scanning Probe Microscopy as an Effective Instrument for Carbon Nanomaterials Growth Analysisдоклад на конференции
- Автор: Loginov A.B.
- Международная Конференция (Семинар (workshop)) : German – Russian Travelling Seminar “Nanomaterials and Large-Scale Research Centers”
- Даты проведения конференции: 30 июля - 10 августа 2019
- Дата доклада: 1 августа 2019
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Irkutsk – Lake Baikal – Novosibirsk – Moscow, Russia
- Добавил в систему: Логинов Артем Борисович