ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
В настоящей работе рассматривается возможность исследования локальной атомной структуры поверхности вещества методом анализа протяженных тонких структур энергетических потерь электронов. В основе преимуществ данного метода лежит использование электронного моноэнергетического пучка для возбуждения внутреннего уровня атома вещества. Данная особенность позволяет проводить анализ локальной атомной структуры относительно атомов легких элементов, сильно локализованных особенностей, в том числе с разрешением по глубине. В работе показаны примеры использования EELFS спектроскопии для анализа ионно-модифицированных систем на основе 3d-металлов. Работа выполнена по плану НИР № гос. Регистрации АААА-А17-117022250040-0.