|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Методика рентгеноэлектронного анализа атомной структуры тонких слоев силикатных стеколдоклад на конференции
- Автор: Канунникова О.М.
- Международная Конференция : Межд. научно-технич.конф. Микро- и нанотехнологии в электронике
- Даты проведения конференции: 21-27 сентября 2009
- Дата доклада: 26 сентября 2009
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Нальчик, Russia
- Добавил в систему: Канунникова Ольга Михайловна