В связи с техническими работами в центре обработки данных, возможность загрузки и скачивания файлов временно недоступна.
 

Scanning probe microscopy for in-situ analysis of carbon films growth by chemical vapor depositionдоклад на конференции

Прикрепленные файлы


Имя Описание Имя файла Размер Добавлен