Исследование фотовольтаических свойств тонких пленок на основе композита квантовых точек PbS и PCBM. - доклад на конференции | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Авторы: Александров А.Е., Тамеев А.Р.
Всероссийская с международным участием Конференция : Всероссийская конференция-школа с международным участием ЭЛЕКТРОННЫЕ, СПИНОВЫЕ И КВАНТОВЫЕ ПРОЦЕССЫ В МОЛЕКУЛЯРНЫХ И КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СИСТЕМАХ 22–25 мая 2019 г., г.Уфа, БГПУ,
Даты проведения конференции: 22-25 мая 2019
Дата доклада: 24 мая 2019
Тип доклада: Устный
Докладчик: Александров А.Е.
Место проведения: г.Уфа, БГПУ, Russia
Аннотация доклада:
Исследование тонких слоев КТ и фотовольтаических характеристик устройств показывают, что снижение структурного беспорядка в слоях КТ является продуктивным способом повышения эффективности таких фотоэлектрических устройств.
Добавил в систему: Александров Алексей Евгеньевич

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИСТИНА ИНХС РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА