Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Характеризация микронных пористых слоёв кремния по данным рентгеновской дифрактометрии
доклад на конференции
Авторы:
Карцев А.А.
,
Ломов А.А.
,
Васильев А.Л.
,
Караванский В.А.
,
Бушуев В.А.
Конференция :
Материалы II Международной научной школы-семинара ”Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии” (Великий Новгород, 1-5 сентября 2008 г.), С. 103-106.
Даты проведения конференции:
2008
Тип доклада:
не указан
Докладчик:
не указан
не указан
Карцев А.А.
Ломов А.А.
Васильев А.Л.
Караванский В.А.
Бушуев В.А.
Место проведения:
Великий Новгород, Россия, Russia
Добавил в систему:
Бушуев Владимир Алексеевич