|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Определение параметров ультратонкого кристаллического слоя бикристалла по данным зеркального отражения рентгеновских лучей в условиях скользящей дифракции.доклад на конференции
- Авторы: Бушуев В.А., Орешко А.П.
- Конференция : Тез. докладов IV национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ, 17-22 ноября 2003 г., Москва). 2003. С. 423.
- Даты проведения конференции: 2003
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Москва, Россия, ИКАН, Russia
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич