|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
X-ray study of SiC surface and bonding interface in compositions SiC/Siдоклад на конференции
- Авторы: Argunova T.S., Grekhov I.V., Kostina L.S., Tur'yanskii A.G., Pirshin LV, Prudnikov I.R., Kim E.D., Kim S.C., Kim N.K.
- Международная Конференция : 5th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Topography XTOP-2000
- Даты проведения конференции: 13-15 сентября 2000
- Дата доклада: 13 сентября 2000
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Ustron-Jaszowiec, Poland
- Добавил в систему: Прудников Илья Рудольфович