Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Параметры пористых наноструктур по данным малоуглового рассеяния в методе трехкристальной рентгеновской дифрактометрии.
доклад на конференции
Авторы:
Ломов А.А.,
Караванский В.А.
,
Бушуев В.А.
Конференция :
Тез. докл. Всероссийской научно-технической конференции “Микро- и наноэлектроника-98”. Звенигород. 1998. C. P 2-59.
Даты проведения конференции:
1998
Тип доклада:
не указан
Докладчик:
не указан
не указан
Ломов А.А.
Караванский В.А.
Бушуев В.А.
Место проведения:
Звенигород, Россия, Russia
Добавил в систему:
Бушуев Владимир Алексеевич