Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Characterization by Mössbauer resonance of Sn2+ impurities localized on the surface of Cr2O3
доклад на конференции
Авторы:
Фабричный П.Б.
,
DEMAZEAU G.
,
Hagenmuller P.
,
PROTSKY A.
Конференция :
ХII Менделеевский съезд по общей и прикладной химии
Даты проведения конференции:
1981
Тип доклада:
не указан
Докладчик:
не указан
не указан
Фабричный П.Б.
DEMAZEAU G.
Hagenmuller P.
PROTSKY A.
Место проведения:
Москва, Russia
Добавил в систему:
Фабричный Павел Борисович