ИСТИНА

Дана общая характеристика метода и рассмотрены результаты экспериментальных и теоретических исследований проведенных автором методом мессбауэровской синхротронной рефлектометрии. Покаазано, что метод позволяет исследовать ультратонкие слои, поверхность и многослойные структуры, обеспечивает селективность по глубине на шкале до ~1 нм.,выявляет сложное магнитное упорядочение в многослойных структурах (межслойное антиферромагнитное, спиральное и т.д.).Поляризационный анализ отраженного пучка является важным информационным каналом и дает возможность различать ферро-, антиферромагнитные и скошенные структуры.