|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Non-destructive determination of thickness of the dielectric layers using EDXдоклад на конференции
- Авторы: Sokolov S., Milovanov R., Kelm E.
- Международная Конференция : ICMNE-2016
- Даты проведения конференции: 3-6 октября 2016
- Дата доклада: 6 октября 2016
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: пансионат Ершово, Звенигород, МО, Russia
- Добавил в систему: Соколов Сергей Александрович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Краткий текст | тезисы доклада | Non-destructive_determination_of_thickness_of_the_dielectri… | 166,5 КБ | 17 ноября 2016 [SokolovSA92] |