|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Analysis of Plane Wave Scattering by Microroughness of Silicon Wafersдоклад на конференции
- Автор: Лопушенко В.В.
- Международная Конференция : 1st Workshop on Electromagnetic and Light Scattering
- Даты проведения конференции: 1997
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Лопушенко В.В.
- Место проведения: Moscow, Russia, Russia
- Добавил в систему: Лопушенко Владимир Васильевич