|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Calculation of scattering from microroughness of filmed wafersдоклад на конференции
- Автор: Лопушенко В.В.
- Международная Конференция : 4-th Conference on Electromagnetic and Light Scattering by Non-spherical Particles: Theory and Applications
- Даты проведения конференции: 1999
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Лопушенко В.В.
- Место проведения: Vigo, Spain, Spain
- Добавил в систему: Лопушенко Владимир Васильевич