Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Applying mean-field theory in scattering from microroughness of filmed wafers
доклад на конференции
Автор:
Лопушенко В.В.
Международная Конференция :
5th International Conference on Light Scattering by Nonspherical Particles
Даты проведения конференции:
2000
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
Лопушенко В.В.
не указан
Лопушенко В.В.
Место проведения:
Halifax, Canada, Canada
Добавил в систему:
Лопушенко Владимир Васильевич