|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Изучение морфологических и физических характеристик тонких плёнок на основе природных полисахаридов с помощью атомно-силовой микроскопиидоклад на конференции
- Авторы: Курек Д.В., Чудинова Ю.В.
- Всероссийская с международным участием Конференция : XXVI Российская конференция по электронной микроскопии и в рамках Конференции 4-я Школа молодых учёных «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов
- Даты проведения конференции: 30 мая - 3 июня 2016
- Дата доклада: 31 мая 2016
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: Чудинова Ю.В.
- Место проведения: г. Москва, Зеленоград, ул. Юности, дом 8 , Russia
-
Аннотация доклада:
Пути создания покрытий с контролируемыми свойствами на основе природных полисахаридов вызывают большой интерес учёных благодаря возможности получения на основе таких покрытий функциональных материалов с заданными, требуемыми характеристиками. С помощью АСМ изучено влияние различных исходных параметров на структуру и морфологию получаемых пленок.
- Добавил в систему: Чудинова Юлия Владимировна