|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
XPS study of fresh and oxidized (Pb,Ge)Te crystal surfaceдоклад на конференции
- Авторы: Яшина Л.В., Неудачина В.С., Шаталова Т.Б., Зломанов В.П., Кобелева С.П., Тихонов Е.В.
- Конференция : 9 European Conference on Application of Surface and Interface Analysis
- Даты проведения конференции: 2001
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Avignon
- Добавил в систему: Шаталова Татьяна Борисовна