Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Исследования степени достоверности определения высот рельефа сверхтонких эпитаксиальных пленок Mo методами СТМ и АСМ
доклад на конференции
Авторы:
Фомин Л.А.
,
Маликов И.В.
,
Березин В.А.
,
Логинов А.Б.
,
Логинов Б.А.
Международная Конференция (Симпозиум) :
XXV Международный симпозиум «Нанофизика и Наноэлектроника»
Даты проведения конференции:
9-12 марта 2021
Дата доклада:
9 марта 2021
Тип доклада:
Стендовый
Докладчик:
не указан
не указан
Фомин Л.А.
Маликов И.В.
Березин В.А.
Логинов А.Б.
Логинов Б.А.
Место проведения:
Нижний Новгород, Russia
Добавил в систему:
Логинов Артем Борисович