ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Разработаны режимы радиационного технологического процесса КМОП ИМС 1986ВЕ92У (0,18 мкм) и AD9744 (0,35 мкм), обеспечивающие стойкость микросхем к одиночным радиационным эффектам